Система 2D рентгеновского контроля, X5600
Описание
Особенности системы:| Возможность инспекции чип-компонентов, LED, BGA, SOP, QFN, датчиков, коннекторов и пр. | ||||
| Возможность быстро выбрать место инспекции с помощью ИК-системы позиционирования | ||||
| Система наклона головы для возможности инспекции образцов под разными углами (до 30⁰) | ||||
| Функция вращения стола на 360° обеспечивает отсутствие слепых зон | ||||
| Сохранение результатов инспекции и создание отчетов |
Остальное оборудование для рентгеновского контроля Вы можете просмотреть в нашем каталоге.
Галерея
Спецификация
| Тип трубки | закрытая |
| Напряжение трубки | 40-90 кВ |
| Ток трубки | 10-200 мкА |
| Максимальная мощность трубки | 8 Вт |
| Размер фокусного пятна | 15 мкм |
| Тип детектора | плоскопанельный (FPD) |
| Пиксельная матрица | 1536х1536 |
| Поле зрения детектора (FOV) | 130х130 мм |
| Разрешение детектора | 5,8 лп/мм |
| Частота кадров изображения | 20 кадр/с |
| Максимальный размер инспектируемого объекта | 280х320 мм |
| Электропитание | 220 В, 50 Гц, 15 А |
| Операционная система | Win10, 64 bits |
| Габариты системы (ДхШхВ) | 850х1000х1700 мм |
| Масса системы | 750 кг |
