Настольная система АОИ i-pulse K5
Описание
| компактная конструкция |
| интуитивное программное обеспечение |
| уникальная система подсветки |
Остальные системы автоматической инспекции б/у Вы можете посмотреть в нашем каталоге.
Спецификация
| Внешние габариты: | 575 х 825 х 561 мм |
| Электропитание: | 200 – 230 В (+/‐ 10%) |
| Частота: | 50 ГЦ |
| Макс. энергопотребление: | 0,4 кВт |
| ХУ оси: | линейные приводы |
| Приращения ХУ оси: | 0,001 мм |
| Программы проверки: | число шагов - 60 000/ плату |
| Число программ: | 500 программ/папку |
| Устройство захвата изображения: | цветная CCD камера с линзами |
Разрешение:
| 30 микрон линзы (от 0402): | стандарт |
Область обзора:
| 30,7‐23,0 мм (от 0402): | стандарт |
| Система подсветки: | авторегулируемая LED-подсветка |
| Размеры печатных плат:X: |
50 ‐ 330мм, Y: 30 – 300мм(Y: 30 – 285 мм приустановленном маркираторе.Y: 30‐250мм при установленном лазерном блоке) |
| Вес: макс.: | 0.65 кг |
| Толщина: | 0,5‐3,0мм |
| Коробление ПП: | макс. 0,5 мм верх, макс. 1.0 мм низ |
| Метод крепления: | за края ПП |
| Высота компонентов: | верх ПП макс. 30 мм, низ ПП макс 25 мм |
Функции проверки:
| Отсутствие компонента |
| Сдвиг компонента, ошибка поворота, установка неправильного компонента, проверка полярности, обнаружение «мостов», измерение высоты компонента (наличие опции: лазерный блок). |
Диапазон компонентов
| SMD корпуса: | |
| 0402 и выше (стандартные 30 микронные линзы) | |
| 0201 и выше (опция, 20 микронные линзы) | |
| 01005 и выше (опция, 15 микронные линзы) | |
| BGA/CSP, Транзисторы, Диоды, MELF,компоненты | |
| Шаг выводов: | 0,3 мм и выше |
| Реперные марки: | должны иметь большой контраст на ПП |
| Требование к температуре: | обеспеченная точность при 23 +/‐ 2 град. Цельсия |
| Требование к влажности: 4 | 5‐60 % |
| Окружающий воздух: | без пыли и сильного шума |
| Требование для поверхности установки системы: ровная поверхность с отсутствием достаточно сильной вибрации при работе системы | |
12.png "Принтер трафаретной печати MPM UltraPrint 1500 — СМТ Технологии")
