Тестирование полупроводников является неотъемлемой частью индустрии микроэлектроники. Данный этап может проводится на неразделенной пластине и предназначен для проверки функциональности ее структурных элементов. Данный тип контроля позволяет определить корректность произведенной на фабрике пластины, а также изготовленные интегральные схемы, которые возможно отправить для корпусирования. Оборудование для данной цели имеет в своем составе зондовые модули для испытания и отбраковки пластин и кристаллов (чипов), тем самым позволяя собрать большую часть информации о пригодности компонентов, спроектированных в объеме полупроводника еще до этапа сборки кристаллов в готовые изделия.