back

Нелинейная система тестирования фиксированными пробниками ICT QBS-Q518

Производитель ICT Tester
Модель ICT QBS-Q518

Описание

Нелинейная система тестирования фиксированными пробниками с временем тестирования компонентов 1~40 мсек

Особенности системы:

Тест MDA на уровне компонентов и тест ATE на уровне схемы может быть выполнен одновременно на одной и той же платформе, что существенно уменьшает время тестирования.
С помощью интегрированного модуля MDA и функционального модуля вы сможете реализовать тестирование любой сложности.
Автоматический переключатель между MDA и ATE тестами. Дополнительная изоляция креплений не требуется.
Безопасность: ваш уже существующий функциональный модуль может быть интегрирован как часть данной системы через программное или аппаратное соединение. Вам не нужно рассказывать нам подробную информацию о вашей продукции.
Гибкость: вы можете легко объединить любой тестовый модуль, из существующей системы, с вашей инновационной продукцией. Вы можете своевременно обновить вашу систему.
Графический интерфейс для отладки тестов.
Архитектура базы данных Oracle позволяет пользователям самостоятельно программировать свои специальные возможности/функции без изменения программного обеспечения.

Остальное оборудование для тестирования печатных плат Вы можете просмотреть в нашем каталоге.

Спецификация

Количество каналов:

256

Максимум точек:

1024 (возможно расширение до 65536) 

Контрольные точки:

10 за шаг теста, автоматическое обучение 

Обычный источник сигнала:

DCV:±10 мВ~±7.5 В или 15 В
ACV:10 мВ~10 мВ
ACDVI:10 мкА~20 мА 

Тестовая частота:

100 Гц, 1000 Гц, 10KГц, 100 KГц, 2 MГц, (50 Гц) 

Шаг тестирования:

без ограничений

Время тестирования компонентов:

1 мсек~40 мсек 

Время тестирования схем:

0,5~102 сек 

Проводимые тесты:

сопротивление(0.052~100МΩ (два провода),1%~ 5% (4 провода) 10мΩ), емкость(1 пФ~40 мФ±2%~5%), индукция(1 мкH~50 H±2%~5%) 

Тестируемые компоненты:

диоды (0.1~9 В±1%~3%), стабилитроны (0.1~15 В±1%~3%), транзисторы (напряжение насыщения Vce и значение B тестируются в три этапа), полевые транзисторы (тестирование трех терминалов Vds, Cds & Rd (вкл)), оптические коннекторы и модули отключения питания (четыре клеммы проверяют их напряжение или сопротивление) 

Тестирование микрорезисторов(4-х проводной):

мин. 50мОм (4 провода) ± 10мОм 

Проверка соединений:

во время проверки соединений программа приостанавливается, и используется ручное управление для определения, является ли соединение хорошим или плохим 

Автоматическая маркировка:

отмечает на оборудовании пройден тест или нет

 
Проверка положение монитора:

контроль ориентации положения 

Проверка эффективности:

если эффективность < X - то будет звуковое оповещение, и если она < Y , то последует звуковое оповещение и остановка инспекционной линии 

Графическая функция:

автоматический обзор печатных плат 

Архивация тестовых данных:

сохранение элементов тестовых данных и сканирование штрих-кода

 
Импеданс последовательно-параллельного соединения:

использование многочастотного теста и метода разделения фаз (8 ~ 82 градусов) 

Проверка полярности электролитического конденсатора и технология обнаружения утечки  
Инфракрасная аппаратная защита  
ОС:

Windows XP 

Конфигурация ПК:

Dual Core 2.8, 2 Гб, жесткий диск: 1000 Гб 

Монитор:

19” 

Принтер:

Epson Bill 

Габариты (ДхШхВ):

1000х750х1600 мм (возможно изменение под требования заказчика) 

Габариты ПП:

500х350 мм 

Пневмопитание:

3~6 бар 

Рабочая температура:

0~+45℃ 

Рабочая влажность:

10-90% 

Электропитание:

1 фаза, 220 В , 50 Гц 

Масса оборудования:

300 кг 

Опции

Зажим
MES система