| Размеры кристалла: | от 250x250 мкм |
| Толщина: | от 75 мкм |
| Размещение тестируемых устройств на четырех упаковках типа GelPacks |
| Двойные фото-сенсоры (фото-сферы) |
| Два тестовых зажима для увеличения производительности |
| Устройство для выполнения калибровки |
| Система автоматического центрирования |
| Интерфейс для связи с тестовым модулем |
| Тестовые данные для сортировки |
| Запись параметров процесса тестирования |
Остальное оборудование для тестирования полупроводниковых пластин Вы можете просмотреть в нашем каталоге.
|
Размеры кристалла: |
от 250x250 мкм |
| Толщина: | от 75 мкм |
| Перемещение по оси Z с дополнительным изменение угла наклона | |
| Программирование точек захвата и контакта | |
| Управление посредством джойстика | |
| Захват компонента посредством вакуума | |
| Два LCD-дисплея | (контроль над установкой пластины и проведением испытаний) |
| Система регулируемой подсветки | |
| Электропитание: | 220 В |
| Пневмопитание: | 5 Бар |
| Вакуум: | 60% |