back

Полуавтоматическая станция для тестирования лазерных диодов, модель PP-One TEST

Производитель JFP Microtechnic
Модель: PP-One_TEST

Описание

Минимальные размеры компонента: 150х150 мкм
Диаметр пластины: до 100 мм
Изолированная головка для основных измерений

Особенности системы:

Система PP-One TEST предназначена для захвата и тестирования качества кристаллов лазерных диодов.
Установка позволяет производить захват и позиционирование в полуавтоматическом режиме для выполнения зондового тестирования.

Конфигурация системы:

Одна головка

Изолированная головка позволяющая производить захват кристаллов с таких носителей, как пластины кремния, Gel-Pak, WafflePack, а также их последующее тестирование и измерение при постоянной температуре. Поддерживается программируемое мультитемпературное тестирование

Две головки

В данном режиме осуществляется захват компонента с пластины и тестовое позиционирование первой головкой. Вторая головка осуществляет измерение при постоянной температуре (мультирежим)

Система позиционирования:

Непрерывная обработка изображения
Поле обзора в зависимости от оптического увеличения: от 2 до 200 мм
Вертикальный осмотр кристалла или упаковки
2 цифровых камеры с высоким разрешением
Камера с цифровым перекрестием
Управляемые цифровые видеогенераторы
2 ЖК монитора 17"
Управляемая подсветка в виде кольца светодиодов

Характеристики температурного процесса:

Постоянная температура: от 0 °C до 100 °C
Возможность адаптации под задачи заказчика

Спецификация

Электропитание: 220 В, 5 кВт
Пневмопитание: 5 атм
Вакуум: 90%
Размеры: 650х680х620 мм
Захват лазерных диодов с пластины либо из упаковки Gel-Pak, WafflePak с размерами 2x2"
Минимальные размеры компонента: 150х150 мкм
Диаметр пластины: до 100 мм
Регулируемое усилие нажатия: от 5 до 700 г