Полуавтоматическая станция для тестирования лазерных диодов, модель PP-One TEST

Описание

Минимальные размеры компонента:	150х150 мкм
Диаметр пластины:	до 100 мм
Изолированная головка для основных измерений

Особенности системы:

Система PP-One TEST предназначена для захвата и тестирования качества кристаллов лазерных диодов.
Установка позволяет производить захват и позиционирование в полуавтоматическом режиме для выполнения зондового тестирования.

Конфигурация системы:

Одна головка

Изолированная головка позволяющая производить захват кристаллов с таких носителей, как пластины кремния, Gel-Pak, WafflePack, а также их последующее тестирование и измерение при постоянной температуре. Поддерживается программируемое мультитемпературное тестирование

Две головки

В данном режиме осуществляется захват компонента с пластины и тестовое позиционирование первой головкой. Вторая головка осуществляет измерение при постоянной температуре (мультирежим)

Система позиционирования:

Непрерывная обработка изображения

Поле обзора в зависимости от оптического увеличения: от 2 до 200 мм

Вертикальный осмотр кристалла или упаковки

2 цифровых камеры с высоким разрешением

Камера с цифровым перекрестием

Управляемые цифровые видеогенераторы

2 ЖК монитора 17"

Управляемая подсветка в виде кольца светодиодов

Характеристики температурного процесса:

Постоянная температура:	от 0 °C до 100 °C
Возможность адаптации под задачи заказчика

Остальное оборудование для тестирования полупроводниковых пластин Вы можете просмотреть в нашем каталоге.