| Компактные размеры |
| Возможность светлопольной (BF) и темнопольной (DF) микроскопии |
| Микроскопия с поляризованным светом |
| Дифференциальная интерференционно-контрастная микроскопия (DIC) |
Остальное оборудование для инспекции качества полупроводников Вы можете просмотреть в нашем каталоге.
|
Модель
|
MFM-В
|
MFM-ВD
|
|
Окуляр
|
Экстра широкоугольный окуляр EX10X d30 мм
|
|
|
Объективы
|
х5/0,12/∞/-(BF) LWD 15,5 мм
х10/0,25/∞/-(BF) LWD 10 мм х20/0,4/∞/0 (BF) LWD 5,8 мм х50/0,75/∞/0 (BF) LWD 0,32 мм х100/0,8/∞/0 (BF) LWD 2 мм |
х5/0,12/∞/- (BF/ DF) LWD 12 мм
х10/0,25/∞/- (BF/ DF) LWD 10 мм х20/0,4/∞/0 (BF/ DF) LWD 4,3 мм х50/0,75/∞/0 (BF/ DF) LWD 0,32 ммх 100/0,8/∞/0 (BF/ DF) LWD 2 мм |
|
Смотровая головка
|
тринокулярная наклоненная на 30°
|
|
|
Межзрачковое расстояние
|
48-75 мм
|
|
|
Светофильтры
|
синий, желтый, зеленый, матовое стекло
|
|
|
Фокусировка
|
грубая и точная, деление 1 мкм
|
|
|
Подсветка
|
регулируемая, 24В, 100Вт, галогеновая лампа
|
|
|
Основание
|
396х276х22 мм, высота штатива 300 мм, диаметр 30 мм
|
|